A. 原子間力顕微鏡(AFM)とは、原子レベルでの物質の表面形状や電子状態を測定する装置です。AFMは、特定の原子の表面形状や電子状態を直接観察することができ、微細な構造や表面形状の解析に用いられます。AFMは、主に物質の表面形状や電子状態の解析に用いられますが、AFMは、特定の原子の表面形状や電子状態を直接観察することができ、微細な構造や表面形状の解析に用いられます。
参考URL:https://ja.wikipedia.org/wiki/AFM
A. 原子間力顕微鏡(AFM)とは、原子レベルでの物質の表面形状や電子状態を測定する装置です。AFMは、特定の原子の表面形状や電子状態を直接観察することができ、微細な構造や表面形状の解析に用いられます。AFMは、主に物質の表面形状や電子状態の解析に用いられますが、AFMは、特定の原子の表面形状や電子状態を直接観察することができ、微細な構造や表面形状の解析に用いられます。
参考URL:https://ja.wikipedia.org/wiki/AFM
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